ジーフロイデ株式会社

東京板橋区板橋2-20-5-203


ごあいさつ

私は光学業界、特に光学測定機に携わって30年近くが過ぎました。20代後半に入った会社が米国製のレーザー干渉計、途中から粗さ計という測定機を販売する会社でした。 私の在籍していた会社は装置メーカーでは無いので装置改良などの要望には答えら得る範囲に限界がありました。 そして辞めて独立し、今は同じく装置の代理販売に始まり、現在は自社開発の装置まで手掛けるに至りました。

業界に入ってからこの30年間、光学業界で飛躍的に進歩したのは撮像素子の技術改良です。今まで解析が不可能だった細かい解像が出来る様になり、それに従い光学素子への僅かな製造誤差が許容出来なくなっています。

そんな技術環境の中、私の基本スタンスは変わりませんが違いがあるとすれば、 お客様の難しい要望に答えられなければ作る、です。そんな思いで非接触レンズ中心厚測定機CT-Gaugeシリーズを開発し、お陰様でやっと大手光学メーカー様への導入が始まりました。 そしてさらにここ数年で様々な計測機、しかも他社では中々見かけない優秀な測定機が集まりました。一例をあげますと、

1.光学系の軸ズレ程度を測定する測定機  
 (コマフリンジアナライザー
2.干渉計のカバー率を拡大する装置  
 (スティッチング装置
3.自動アライメントで非球面レンズの面間偏芯
  軸ズレ・外径を測る装置(RTX)・・・近日公開予定
4.大型サンプルの面粗さを測る装置(GBS
  ・・・取扱開始

等でどれもかつて見た事が無い程の素晴らしい装置です。協力会社様のお陰でレンズ関係で言えば偏芯、面形状評価、表面粗さ、軸ズレの把握、非球面の相対位置関係等、かなり幅広い計測分野を網羅するに至りました。

私が目指す方向は『業界の名医』です。他社で出来ない、無理だと言われた難題を解決したい。そんな測定機を皆さんにご提供したいと思います。先ずはご相談下さい。共に解決策を考えたいと思います。どうぞよろしくお願いいたします。


社長経歴

代表取締役 草間 良行(くさま よしゆき)
昭和34年4月24日生まれ(東京都板橋区出身 現63歳)
昭和59年  立教大学理学部物理学科卒業(専攻:宇宙線研究)
同年     カシオ計算機株式会社入社(デジタルTV開発部門に配属)
       社内初のTFT液晶TVの開発に尽力
平成元年  キヤノン販売株式会社入社(輸入光学計測機器販売部門に配属)
平成12年  販売成績優秀選考による社長賞受賞
平成14年  3月退社後、同社設立。
平成27年 東京都『試作品等顧客ニーズ評価・改良支援助成事業』
      にて非接触レンズ肉厚測定機を開発
平成29年  板橋区製品技術大賞審査委員章 受賞(上記装置)
平成29年 板橋区『開発チャレンジ補助金事業』にて
      レンズ接合用電子制御式芯出装置を開発
平成30年  板橋区製品技術大賞審査委員章 受賞(上記装置)

平成31年 板橋区『開発チャレンジ補助金事業』にて
       生産現場用レンズ肉厚測定機を開発
令和元年  板橋区製品技術大賞審査委員章 受賞(改良型非接触レンズ肉厚測定機)

令和二年  日刊工業新聞社・中小企業振興財団主催 
      第32回中小企業優秀新技術・新製品 賞一般部門 
      非接触レンズ中心肉厚測定機 奨励賞 受賞

現在に至る
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