ジーフロイデ株式会社

東京板橋区板橋２-20-5-203

カバー率を診断

干渉計をお使いの方々の悩みの一つに測定面積のカバー率という問題があります。
原器にはｆナンバーがあるので測れる面積は原器次第です。
下記は干渉計に於ける一般的なカバー率の概念図を示しています。


干渉計利用者はこの原器制限の中で面評価をします。下記はご存知Z社の原器選定指標です。
先ずは貴社のレンズの径とRを調べカバー率がどこまで可能なのか調査する必要があります。


先ずはここに自社レンズの範囲をプロットし
どこまでカバー出来ているか把握します。
※これは膨大な作業なので有償対応です。

TSを追加する

純正品に無いラインナップのTSが必要であれば特注原器を作ります。昔から原器の精度保証方法はいくつかあります。球面原器の保証方法はいわゆる＜２球面法＞と呼ばれています。
具体的には面精度の高い（例えば全面でλ/20)原器を参照原器とし、回転しながら繰り返し測定します。しかも参照原器の中心部分のみを使って評価するなら精度は更に高まります。（下記）


但し、それでも全面測定は出来ないので次の手は画面合成手法となります。

スティッチング装置（開発中）

１９９６年に設立された米国企業により画面合成測定技術を搭載した装置がリリースされました。しかしながら課題は分割測定の信頼性、装置の大型化そして価格です。
この課題を解決したのが清原光学製スティッチング装置です。装置概要は下記です。
装置構成は

１．サンプルを干渉計光軸に対し斜めに保持し回転させるメカ機構
２．画面を合成する解析ソフトウェア

です。従って既存の干渉計に付加させるだけで測定が可能となり、大掛かりな装置を新規
で導入する構想ではありません。６インチ純正TSの測定範囲がどの程度拡大するかの指標
も示しました。青線が純正TSのカバー率、黄線がスティッチングした場合のカバー
率です。


スティッチング装置を使った場合のカバー率の変化指標


製品紹介動画はこちらです。
（令和２年度　板橋製品技術大賞　優秀賞/東京商工会議所板橋支部賞　受賞！）
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